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        產品展示 / products 您的位置:網站首頁 > 產品展示 > 飛納電鏡 > 掃描電鏡干粉制劑顆粒檢測
        • Particle Metric掃描電鏡干粉制劑顆粒檢測
          Particle Metric掃描電鏡干粉制劑顆粒檢測

          結合飛納臺式掃描電鏡干粉制劑顆粒檢測系統,以快速、簡便的方式實現顆粒的可視化分析,代表著微觀顆粒分析技術的一大進步??焖?、易用和超清晰成像質量的飛納臺式掃描電鏡,加上顆粒統計分析測量系統的顆粒圖像分析功能,為用戶檢驗、分析各種各樣的顆粒、粉末樣品創造了一個強大工具。

          更新時間:2023-09-28型號:Particle Metric瀏覽量:1150
        • Phenom Particle Metric顆粒測試
          Phenom Particle Metric顆粒測試

          Phenom Particle Metric顆粒測試以較快、較簡便的方式實現顆粒的可視化分析,是微觀顆粒分析技術的一大進步??焖?、易用和超清晰圖像質量的Phenom飛納掃描電鏡,加上Particle Metric顆粒系統的顆粒圖像分析功能,為用戶提供了分析顆粒和粉末試樣的強大工具。

          更新時間:2023-09-28型號:瀏覽量:1857
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