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        Phenom Particle Metric顆粒測試

        Phenom Particle Metric顆粒測試

        簡要描述:Phenom Particle Metric顆粒測試以較快、較簡便的方式實現顆粒的可視化分析,是微觀顆粒分析技術的一大進步??焖?、易用和超清晰圖像質量的Phenom飛納掃描電鏡,加上Particle Metric顆粒系統的顆粒圖像分析功能,為用戶提供了分析顆粒和粉末試樣的強大工具。

        產品型號:

        所屬分類:掃描電鏡干粉制劑顆粒檢測

        更新時間:2023-09-28

        廠商性質:其他

        詳情介紹
        品牌其他品牌產地國產
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        Phenom Particle Metric顆粒測試

        Phenom World BV 顆粒測試系統Phenom Particle Metric

        —— 研究顆粒和粉末的強大工具

        ParticleMetric顆粒測試系統,以快、簡便的方式實現顆粒的可視化分析,是微觀顆粒分析技術的一大進步??焖?、易用和超清晰圖像質量的Phenom飛納掃描電鏡,加上Particle Metric顆粒系統的顆粒圖像分析功能,為用戶提供了分析顆粒和粉末試樣的強大工具。

        基于飛納掃描電鏡的顆粒分析解決方案ParticleMetric能夠使用戶根據需要,隨時獲取所觀測顆粒的面積、當量直徑、表面積、外接圓直徑、比表面積、周長、寬高比、充實度、伸長率、灰度等級、長軸、短軸長度(橢圓)、凸殼體、重心、像素點數、凸狀物等數據,終實現ParticleMetric加速顆粒物分析速度、提升產品質量的目的。

        Phenom Particle Metric顆粒測試的功能

        1.     可進行以下顆粒分析

        l  顆粒尺寸范圍:100nm ~ 0.1mm

        l  顆粒探測速度:高達1000個/分鐘

        l  顆粒測量屬性:大小、形狀、數量

        2.     可以測量的顆粒參數

        l  面積、當量直徑、表面積、外接圓直徑、比表面積、周長、寬高比

        l  充實度、伸長率、灰度等級、長軸長度和短軸長度(橢圓)

        l  凸殼體、重心、像素點數、凸狀物。

        3.     可以提供的圖形顯示

        l  按數量或體積的線性、對數、雙對數點狀圖

        l  任何參數的散點圖

        l  單個顆粒的SEM圖像

        4.     可以提供的圖形輸出

        l  Word版本docx格式的報告,TIFF格式的圖像

        l  CSV文件,離線分析的項目文件(.PAME)Pro Suite的一部分

        飛納掃描電鏡顆粒系統ParticleMetric軟件的優勢

        1.      加載ParticleMetric軟件的飛納臺式掃描電鏡能夠輕松生成并分析圖像,方便用戶采集超細顆粒的形貌信息和顆粒的尺寸數據;

        2.      全自動的飛納掃描電鏡顆粒測試系統ParticleMetric軟件測量可以實現超出光學顯微鏡、更好景深的視覺效果,為用戶提供顆粒物的結構設計、研發和質量控制方面的細節數據;

        3.      ParticleMetric軟件生成的柱狀圖、散點圖可以作為報告的內容按照格式輸出。任何柱狀圖都可以按照被測顆粒的不同屬性,生成數量柱狀圖和體積柱狀圖。散點圖可以按照任何一項顆粒的特性生成,以便揭示相關趨勢。

        4.     直接由Phenom獲取圖像,識別并確認諸如破損顆粒、附著物和外來顆粒,關聯顆粒物的特征,比如直徑、充實度、縱橫比和凹凸度

        5.     便捷的操作提升了工作效率并使計劃表簡單化和可視化

        6.     無限制的圖像采集,可輕松存儲于網絡或優盤,便于共享、交流或以后參考

        7.     Phenom的易用性和對環境的良好適應力,用戶可以將試樣程度視覺化

        8.     附有高清圖片的統計學數據。



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